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探針臺(tái)制造商,GP200探針臺(tái)包含DC~THZ測試所需的完整配置，能夠在短時(shí)間內(nèi)準(zhǔn)確地完成測試要求。 提供專業(yè)的測試方案，能夠?qū)崿F(xiàn)高品質(zhì)的I-V、C-V、RF 等測試。
8英寸手動(dòng)探針臺(tái),射頻探針臺(tái),高壓探針臺(tái),MPI 8英寸射頻高低溫手動(dòng)探針臺(tái)具有ShielDEnvironment™的MPI TS200-SE探針系統(tǒng)可提供最大的EMI屏蔽，并允許進(jìn)行低噪聲的器件在片測量，從而可廣泛用于各種應(yīng)用，例如器件表征和建模，RF /微波，晶片級可靠性，故障分析，設(shè)計(jì)驗(yàn)證，和大功率。
高壓探針臺(tái)通過TS2000-DP，MPI提供了一個(gè)多功能且經(jīng)濟(jì)高效的探針臺(tái)，半自動(dòng)|MPI 8英寸高壓探針臺(tái)適用于20°C至300°C溫度范圍內(nèi)的晶圓上高功率器件測量，測量能力高達(dá)3 kV（三軸）/ 10 kV（同軸）和600 A（脈沖）。
射頻探針臺(tái),12英寸全自動(dòng)射頻探針臺(tái)設(shè)計(jì)有五個(gè)單獨(dú)的托盤，可按人體工學(xué)方式手動(dòng)裝載150、200或300毫米的“模型”晶圓。
全自動(dòng)| FAB廠生產(chǎn)線常用探針臺(tái)采用新開發(fā)的專有XY驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了高速，低振動(dòng)。
全自動(dòng)探針臺(tái),FAB廠生產(chǎn)線常用探針臺(tái)采用新開發(fā)的專有XY驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了高速，低振動(dòng)。$n與現(xiàn)有產(chǎn)品相比，考慮到環(huán)境因設(shè)計(jì)變化而實(shí)現(xiàn)的占地面積小，功耗降低10％
高功率探針臺(tái),半自動(dòng)探針臺(tái)用于在寬 -60°C 至 +300°C 的溫度范圍和寬 3 kV （三軸） / 10 kV （同軸） 和 600 A 測量范圍的晶圓#HighPower 對高功率芯片特性進(jìn)行測試。系統(tǒng)可以選擇在薄晶片或TAIKO晶圓上進(jìn)行測試。半自動(dòng)高功率探針臺(tái)|
